2025年11月25日

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米国
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法改正・制度改正

USPTOにおける審査官インタビュー手続きの運用変更

2025101日より、米国特許商標庁(USPTO)における審査官とのインタビュー手続きについて、実質的な運用変更が導入されました。これまでは出願や継続審査請求(RCE)ごとに複数回の面接が柔軟に認められてきましたが、新たな審査官評価制度(Performance Appraisal Plan: PAP)の導入により、1出願または1RCEにつき原則1回の面接のみが審査官に認められ、2回目以降の面接は上級審査官(SPE)の事前承認が必要となりました。これは審査官が面接に費やせる時間に制限を設けたものであり、今後の米国実務におけるインタビュー戦略に大きな影響を与えます。

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